电滞回线及高压介电击穿强度测试系统

美国PolyKTechnologies公司基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统，广泛用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系；

系统特点：
1）整合了系统保护电路：当试样在高压测试发生击穿时，可有效的保护测试系统；
2）配合Trek高压放大器执行测试时，高压>10kV,并且频率可达1000Hz,高级模式可达300kHz；
3）高压击穿测试可在AC、DC或者Fieldendurancelife模式下测试，而且只需简单的切换信号连接即可；
4）自动铁电性能测试直至介电击穿发生；
5）对于介电材料充放电测试，软件能自动给出充电能量密度和放电能量密度，以及充放电效率；
6）对于寿命循环测试（DC模式或者AC模式），系统会自动生成测试总结文件；
7）独特的夹具设计，确保即使测试软的高分子介电材料也不会损伤样品；
8）基于LabView设计的功能强大的软件系统，用户可方便地控制电压、信号波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和频率；

技术规格：
1）内置电压：±100Vor±200V放大器
2）电压放大器>10kVto30kV
3）电荷：<1nCto>1mC(取决于放大器输出)
4）测试频率：0.01Hzto1000Hz,or10kHz,or300kHz.
5）压电应变测量选件：FotonicSensor10nm分辨率或者磁电传感器；
6）高压变温测试选件：-184℃to250℃；

测试功能：
1）DHM测量：DynamicHysteresismeasurement
2）PM测量：PUNDmeasurement
3）SHM测量：Statichysteresismeasurement
4）FM测量：Fatiguemeasurement
5）RM测量：Retentionmeasurement
6）IM测量：Imprintmeasurement

7）漏电流测量：LeakageCurrentmeasurement(可选)

8）热释电测量：Pyroelectricmeasurement（可选）

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