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赛默飞TalosF200XS/TEM透射电子显微镜
2024-07-13 11:43IP属地 广东20询价
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赛默飞 |
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产品详情
TalosF200XS/TEM
产品描述TalosF200X扫描 /透射电子显微镜 (S/TEM)具有最为快速、准确且量化的多维纳米材料表征分析能力。TalosF200XS/TEM的创新功能可提高通 量、精度与易用性，非常适于学校、政府和工业研究环境中的纳米级研究与分析。高分辨率成像，获取更高质量的数据ThermoScientificTMTalosTMF200XS/TEM融合了出色的高分辨 率STEM和TEM成像功能与行业领先的能谱仪(EDS)信号检测功能及基于成分分析的三维化学表征功能。ThermoScientificVeloxTMS/TEM控制软件通过智能扫描引擎、基于多个STEM探测器的四通道集成以及用于分辨样品磁畴、电畴分布的差分相位衬度(DPC)成像，大幅改善了成像效果。可为EDS数据处理和量化分析提供极高的速度和精确度。X-FEG高亮度电子枪可提供更高的总电流(最高为标准肖特基FEG电子束电流的五倍)，同时可维持较小的会聚角。您可以获取STEM、EDS和高分辨率TEM应用所需的卓越的图像分辨率和信噪比。X-FEG不仅非常稳定，而且寿命很长，可实现出色的成像效率。视野更大，速度更快TalosD/TEM上的快速TEM成像支持高分辨率和原位动态观察。ThermoScientificCeta16MTM相机具有大视场并能够以 25fps的快速率捕捉图像，同时压电载物台可确保高灵敏度、无漂移成像和精确样品导航，从而节约时间并允许您从每个样品中获取更多数据。加快纳米级分析以更快获取答案TalosF200XS/TEM包括获得专利的 ThermoScientificSuper-XTM、 集成四个硅漂移探测器(SDD)的EDS系统，可提供出色的灵敏度和高达105光谱/秒的扫描能力。与X-TWIN物镜集成，可最大限度提高收集效率，同时可实现给定电子束电流(甚至是低强度EDS信号)的出色输出计数率。更轻松地开展研究
凭借友好的数字用户界面和领先的人体工程学设计，TalosS/TEM使成像和分析工作流程可为更多科学家所用。快速的图像采集，加之易于使用的操作平台，即使是经验不足的操作者也能够快速收集结果。人机分离的远程操作设计显著提高了易用性，舒适性和电镜的稳定性。此外，为了确保维持工作效率，TalosS/TEM配备了新型设备状态记录和诊断软件。该软件可收集主要的仪器参数，有助于远程诊断和支持。特点与用途主要优势更好的图像数据:配备同步多重信号检测的高通量STEM成像可实现更好的对比度，从而可提供高质量图像
更短的化学成分数据生成时间:快速、精确且量化的EDS分析可揭示纳米级细节
强大的应用扩展能力:添加特定应用的原位样品杆以开展动态实验
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功能领先的光学性能 :恒定功率 X-TWIN物镜
最大程度提高易用性:快速轻松的操作切换，适用于多用户环境
超稳定平台 :恒定功率物镜、压电载物台、牢固的系统机壳和 远程操作可确保最高的稳定性
SmartCam摄像头 :数字搜索和查看摄像头显著提高了操作便 利性，让使用者可以离开暗室进行远程操作。
完全集成的快速相机 :Ceta16M像素 CMOS相机可提供大视 场和高读取速度(512x512时为 25fps)
全面的远程操作 :自动光阑系统与 Ceta相机相结合，支持全 面的远程操作
丰富的分析功能 :TalosS/TEM使用 EDS立体成像技术将样品 成分分析功能从二维扩展至三维。
产品参数X-FEG亮度 1.8×109A/cm2srad(200kV时)总电子束电流 >50nA束斑电流 1.5nA@1nm束斑 (200kV)Super-XEDS系统 采用对称设计的SDD能谱探头，无窗设计，受机械快门保护能量分辨率 Mn-Kα和 10kcps时 ≤136eV(输出)快速EDS面分析 像素驻留时间短至10μsSTEMHAADF分辨率 0.16nmEDX立体角 0.9sradTEM信息分辨率0.12nm最大衍射角度24?双倾样品杆的最大倾斜角度±35°α倾角/±30°β倾角样品台最大倾斜角度±90?
