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牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器
2024-07-13 11:43IP属地 广东490询价
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| 品牌 |
牛津仪器 |
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产品详情
UltimMaxTEM，搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMaxTEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件,为200kV下EDS分析提供高质量数据。· 0.2-0.6srad的立体角· 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍· 可在400,000cps的计数率下进行定量分析在原位实验中，可在1000°C的温度下采集谱图
旗舰款SDD传感器UltimMaxTLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。0.5-1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图
XploreTEM是专门为120kV和200kV透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件,为用户提供快速和准确的元素表征。0.1-0.4srad的立体角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性
