仅使用中等电流就可以进行极快的面分析表征
可以在极低电流(<10pA)下对束流敏感材料进行分析,例如生物或半导体样品
对具有粗糙表面的样品进行表征,有效避免阴影效应
低kV和高放大倍率下的纳米颗粒和纳米结构分析
SEM中测量薄样品(如 TEM薄片)和其他X射线产量低的样品的理想化选择
| 价格 | 面议 |
| 发货 | 广东东莞市预售,付款后7天内 |
| 品牌 | 布鲁克 |
| 该产品库存不足 |
仅使用中等电流就可以进行极快的面分析表征
可以在极低电流(<10pA)下对束流敏感材料进行分析,例如生物或半导体样品
对具有粗糙表面的样品进行表征,有效避免阴影效应
低kV和高放大倍率下的纳米颗粒和纳米结构分析
SEM中测量薄样品(如 TEM薄片)和其他X射线产量低的样品的理想化选择