超快速原子力显微镜ngstyle="white-space:normal;">NanoWizard®ULTRASpeed2
630Hz线速率、10帧/秒高分辨超快速成像
最高分辨的定量纳米力学成像
与最精密先进光学显微镜的完美结合
新一代基于工作流程的软件革新
灵活易用的模块化设计与大量模块的卓越拓展性
超快速扫描终极性能
NanoWizard®ULTRASpeed2拥有最新一代Vortis™2控制器、顶尖的基于工作流程的用户界面、先进的扫描器设计以及新的工作模式，从而提供了卓越的高性能和无与伦比的用户有好度。新一代超快速原子力显微镜结合了真正原子级分辨率与10帧/秒的超快速扫描速率。这些技术突破是JPKBioAFM技术团队的技术专家们不断强化与创新的结晶。
用户易用性的新高度
JPK的工程师团队采用了全新的方法开发了新一代控制软件。新一代V7控制软件基于工作流程，旨在满足每个用户的多种需求。新一代软件可以更容易的控制复杂与长期的实验过程，结合一整套新开发的配件与功能，帮助和加快科学产出。
真正原子级分辨率与超高的稳定性
NanoWizard®ULTRASpeed2为满足高分辨率应用需求而设计。该系统提供的市面上最低噪音水平和最高稳定性是获得真正原子级分辨率的关键。此外，在超低力下的直接力控制可以防止对样品和探针的损坏。该系统采用最先进的位置传感器技术，可以提供最高的精度和最大的准确度。
搭配倒置光学显微镜10帧/秒超快速扫描定义新标准
全新的NanoWizard®ULTRASpeed2探针扫描技术可以达到传统原子力显微镜难以企及的速度水平。实时、原位的成像实验现在可以搭配高分辨先进光学系统进行。
采用NestedScannerTM技术对大起伏褶皱样品进行高速成像
迄今为止，在活细胞、大起伏褶皱样品以及具有陡峭边缘的样品进行最高时间与空间分辨率的动态成像实验一直是一项具有挑战性的工作。基于全新的NestedScannerTM技术，在细胞、细菌或其他褶皱样品的表面可以实现高速的扫描成像，样品最大容许起伏可达8µm。
搭配先进荧光显微镜的AFM同步触发与样品动态过程实时观察
样品的动力学变化通常依赖于改变环境条件来触发反应。全面的环境控制解决方案(温度控制以及气体或液体交换)，结合光学显微镜手段，使用户能够以无与伦比的速度进行高级AFM实验。NanoWizard®ULTRASpeed2刷新了显微镜连用方案的标准。
高速扫描的技术优势
■高分辨观察样品实时的动态过程
■NestedScannerTM技术快速扫描褶皱或较高的样品表面
■AFM与荧光显微镜连用实现原位的多参数观察
■极大提高工作效率，快速观察样品多个位置
