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赛默飞(原FEI)Helios5DualBeam双束扫描电镜图1

赛默飞(原FEI)Helios5DualBeam双束扫描电镜

2024-07-13 11:51IP属地 广东00询价
价格 面议
发货 广东东莞市预售,付款后7天内  
品牌 赛默飞
该产品库存不足
产品详情
Helios5DualBeam

【产品描述】
新一代的赛默飞世尔科技Helios5DualBeam具有Helios产品系列业界领先的高性能成像和分析性能。它经过精心设计,可满足材料科学研究人员和工程师最广泛的FIB-SEM使用需求。
Helios5DualBeam重新定义了高分辨率成像的标准:最高的材料衬度,最快、最简单、最精确的高质量样品制备,用于S/TEM成像和原子探针断层扫描(APT)以及最高质量的表面下和三维表征。在HeliosDualBeam系列久经考验的性能基础上,新一代的Helios5DualBeam进行了改进优化,所有这些都旨在确保系统处于手动或自动工作流程的最佳运行状态。

技术参数

半导体行业技术参数:


Helios5CX

Helios5HP

Helios5UX

Helios5HX

Helios5FX


样品制备与 XHR 扫描电镜成像

最终样品制备 (TEM薄片,APT)

STEM 亚纳米成像与样品制备

SEM

着陆电压

20 eV~30 keV

20 eV~30 keV

分辨率

0.6 nm@15 keV

1.0 nm@1 keV

0.6 nm@2 keV

0.7nm@1 keV

1.0nm@500 eV

STEM

分辨率@30 keV

0.7 nm

0.6 nm

0.3 nm

FIB制备过程

最大材料去除束流

65 nA

100 nA

65 nA

最终最优抛光电压

2 kV

500 V

TEM样品制备

样品厚度

50 nm

15 nm

7 nm

自动化

样品处理

行程

110×110×65 mm

110×110×65 mm

150×150×10 mm

100×100×20 mm

100×100×20 mm+5轴(STEM Compustage

快速进样器

手动

自动

手动

自动

自动+自动插入/提取STEM 样品

 

材料科学行业技术参数:



Helios5CX

Helios5UX

离子光学


具有越的大束流性能的TomahawkHT离子镜筒

具有越的大流和低电压性能的Phoenix 离子镜筒

离子束电流范围

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科学粮草官

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