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DENSsolutionsLightningTEM原位实验热电方案
2024-07-13 11:51IP属地 广东10询价
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DENSsolutions |
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产品详情
LightningTEM原位热电方案
01产品概况LightningTEM原位热电方案是为了帮助研究人员在精确控制加电和加热环境的同时观察样品变化的实时动态过程,扩展了在TEM中的应用范围。搭配的LightningNano-chip芯片能够提供最高精度控制样品偏压和加热环境的能力,能在900℃高温下同时实现高于300kV/cm的电场,芯片拥有多种配置,能够满足不同的实验要求,并都能保证TEM的原子级分辨率成像能力,同时创建了最为真实的应用环境。在进行热学研究的同时,在pA电流灵敏度下完成I-V测试,为原位实验研究提供了全新的观察视角。
02产品特点
样品制备简单便捷
1.样品制备成功率高使用我们专有的FIB样品台、Nano-Chip芯片和详细的制样流程简化了整个制样过程。2.最优质的FIB薄片直接在芯片上进行最终减薄,而不影响加热和加电性能。
可靠的环境刺激控制1.精准控制加热和加电四探针法为加热和加电设计提供了最准确的温度、电压和电流控制。2.原位环境刺激范围广基于MEMS的Nano-Chip芯片旨在单独或同时承受最高温度和电场。3.可靠的温度可通过使用EELS和SAED技术在TEM中直接验证温度。
高质量的数据结果1.全新的观察视角进行热学研究的同时,在具有真正pA电流灵敏度的条件下测量I-V。2.超高稳定性即使温度达到1000°C(ΔT=1000°C),漂移率也小于200nm,样品稳定时间短,即使在高电压下也能达到原子级分辨率。3.不受影响的STEM/TEM性能较小的Z轴位移(膨胀)保证了分辨率不受影响,且无需移动样品台。
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03.案例分享
下图是在800℃的条件下,我们对样品进行加电实验,观察样品核壳纳米材料在HRTEM下显示的结构变化,并且此时电压可以达到极高值。样品杆具有极高的稳定性,即便在最高温度和电场环境下,也能实现常规的原子分辨率成像。
04应用领域
05原位实验技术简介透射电子显微镜(TEM)一直是观察微观世界的有力工具。尤其是球差矫正器的出现,科学家已经可以实现在原子尺度上对材料的化学结构进行表征成像。此外,TEM的进步也带动了CCD相机的发展,这样,TEM就同时具有优异的空间分辨率和时间分辨率,那么时间和空间的结合,是否可以让TEM动起来?众所皆知,TEM需要在高真空条件下表征静止状态下的样品,但这不足以反映材料在真实环境下的微观结构。为此,荷兰DENSsolutions公司多位科学家利用最新的MEMS技术,设计出了独特的纳米芯片,据此可以向TEM中引入动态外界刺激条件,模拟样品在真实环境下的状态,打破压力的限制,记录样品的动态变化过程,让TEM真正的实现动起来。
荷兰DENSsolutions公司为透射电镜提供技术先进的、纳米尺度的原位显微工具,其产品可以为原位TEM样品施加外界刺激,捕捉TEM样品在真实环境下的动态现象。目前,已经可以在TEM中引入气、液、热、电等多种状态。
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