INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台，三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M（力学加载）、INSTEMS-E（电学加载）和INSTEMS-T（热场加载）；三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME（力电耦合）、INSTEMS-TE（热电耦合）和INSTEMS-MT（力热耦合）；一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET（力热电耦合）。
产品介绍：
INSTEMS-TE可以实现多种模式的电学施加和高精度的电学测量。在此基础上，通过选择单一热源或相互独立的双热源模式，可实现均匀热场或梯度热场的施加。这一独特优势使该产品不仅满足传统热学和电学领域，也满足热电领域的研究需求。
突出优势：
1、多种力学加载模式拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳自动/手动/循环加载牛顿级驱动器(>100mN) pm级驱动控制
2、多种力学加载模式
拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳
自动/手动/循环加载
牛顿级驱动器(>100mN)
pm级驱动控制
3、双轴倾转α轴倾转最高至±20° β轴倾转最高至±10°
4、稳定的原子尺度成像极限样品漂移＜50pm/s空间分辨率≤0.1nm
技术指标：
ngstyle="box-sizing:border-box;outline:0px;text-size-adjust:none;-webkit-tap-highlight-color:rgba(0,0,0,0);">加热范围ngstyle="box-sizing:border-box;outline:0px;text-size-adjust:none;-webkit-tap-highlight-color:rgba(0,0,0,0);"> RT up to 800 ℃加热准确性≥98% 加热速率>10000 °C/s最大电压± 30 V 电流测量范围1 pA-1 A空间分辨率≤0.1 nmEDS兼容性√
应用领域：
热电材料半导体相变存储电池可靠性失效分析介电材料……
