1/5
透射电镜双倾探针电学原位系统
2024-07-13 11:52IP属地 广东60询价
| 价格 |
面议 |
| 发货 |
广东东莞市预售,付款后7天内
|
| 品牌 |
CHIPNOVA |
|
该产品库存不足 |
产品详情
产品简介
通过纳米探针对样品施加电场控制,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。
我们的优势
纳米探针操纵系统
1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。
2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。
优异的电学性能特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。
智能化软件1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。
技术参数
类别项目参数
基本参数杆体材质高强度钛合金
控制方式高精度压电陶瓷
倾转角α≥±20°,β≥±20°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号)
适用电镜ThermoFisher/FEI,JEOL,Hitachi
适用极靴ST,XT,T,BioT,HRP,HTP,CRP
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持