透射电镜全角度三维重构样品杆_光学仪器_仪器设备_供应

产品简介

在普通三维重构样品杆的基础上升级而来，搭配两种可替换针尖:单轴和C型针尖，可适用更多种类样品。

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我们的优势

创新设计

1.高强度钛合金特殊结构设计，高精度加工，经久耐用。

2.C型针尖创新结构设计，保证铜网稳定性，不会对EDS分析造成干扰。

3.可替换式针尖，方便同一样品在TEM、FIB、AP等多平台转移，获取更全面信息。

高质量成像

1.单轴针尖可360°高精度旋转，获取更多二维成像信息，避免锲形信息丢失。

2.C型针尖为3mmHalf-Grid设计，α角最大旋转角度为 ±90°，避免样品阴影，提供高质量层析成像数据。

技术参数

类别项目参数基本参数杆体材质
高强度钛合金样品类型棒状、圆锥形、3mmHalf-Grid漂移率＜0.5nm/min（稳定状态）分辨率电镜极限分辨率兼容电镜ThermoFisher/FEI，JEOL，Hitachi(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持

应用案例

电子断层扫描对纳米尺度地质材料的三维分析

参考文献来源：Three-dimensionalAnalysesofGeologicalMaterialsonNanoscalebyElectronTomography[J].AtomicSpectroscopy,2022.

最大倾斜角度为±54°、间隔为6°的一系列倾斜图像重建结果。

透射电镜全角度三维重构样品杆