• 按照x,y轴方向扫描生成图像。焦距内的信息是明亮的,焦距以外的信息是黑暗的。
• 通过改变样本与物镜之间距离(样本是光学切割的截面),生成图像栈。
• 通过分析图像栈中单个像素的分布强度,可计算出相应的高度。整个视野中的高度信息结合起来可以形成一个高度图。
ngstyle="white-space:normal;">采用C Epiplan-APOCHROMAT物镜
ngstyle="white-space:normal;">
采用CEpiplan-APOCHROMAT物镜 • 得益于在可见光谱范围内,增强成像对比度和进行高速传输成像。 • 在传统宽视场显微技术中,用微分干涉(DIC)和荧光获取更佳的观察结果。 • CEpiplan-APOCHROMAT物镜专门为共聚焦显微技术而设计,能够实现全视野中405纳米的像差。 这样可以更少的减少干扰噪声和工件产生地形数据,从而显示更多样本表面细节。
用Strehl比率评估CEpiplan–APOCHROMAT物镜的光学质量。这个结果相对于值为1的理论上完美的系统,体现了一个更为真实的系统性能。
开放式应用程序开发(OAD):您的ZEN成像软件界面:
OAD:您的ZEN成像软件界面
蔡司LSM900配备新版ZEN成像软件,包含一个开放式应用程序开发(OAD)界面,用于数据交换。
• 自定义并自动化您的工作流程。当您需要除基本的ZEN软件以外的功能时,您可以与第三方分析和研究
软件交换数据,如MATLAB。
联系方式