OLYMPUS奥林巴斯偏光显微镜BX53-P_显微镜_光学仪器_仪器设备_供应

奥林巴斯BX53P偏光显微镜

奥林巴斯BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像，是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究，都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。

用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜

采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像

镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取锐利而清晰的锥光图像。

无应力光学元件

UPLFLN-P无应力物镜得益于奥林巴斯*的设计和制造技术，将内部应力降到了zui低。这就意味着更高的EF值，从而可以得到的图像反差。

种类丰富的补色器和波长板

提供了六种不同的补色器，用于测量岩石和矿物薄片的双折射。测量光程差水平范围从0到20λ。针对更方便的测量和高图像反差，可以使用Berek和Senarmont补色器，它们能在整个视场内改变光程差级别。

各种补偿板的延迟测量范围

补偿板

测量范围

主要用途

U-CTB厚型Berek

0-11,000nm

较大的延迟测量（R*＞3λ）。（结晶、高分子、纤维、光弹性失真等）

U-CBEBerek

0-1,640nm

延迟测量（结晶、高分子、纤维、生物体组织等）

U-CSESenarmont

0-546nm

延迟测量（结晶、生物体组织等）对比度增强（生物体组织等）

U-CBR1Brace-Kohler1/10λ

0-55nm

微小延迟测量（结晶、生物体组织等）

对比度增强（生物体组织等

U-CBR2Brace-Kohler1/30λ

0-20nm

U-CWE2石英楔子

500-2,200nm

延迟的近似测量（结晶、高分子等）

*R表示延迟。

为提高测量精度，建议与干涉滤镜45IF546一起使用。（U-CWE2除外）

OLYMPUS奥林巴斯偏光显微镜BX53-P