显微光度计

TIDASMSP400系统适用范围:

   -在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谱

   -关于反射率（明/暗场）所有应用程序，偏振或荧光，取决于所选择的配置

   -获取时间小于1秒

   -通过J&MTidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集

   -灵活可调的控光装置
  
   -灵活运用于材料学和生物学(MSP400/800)

   -光电倍增器或CCD探测器

   -可适应不同制造商的显微镜


概述

   有机发光二极管（OLED）正在开发的下一代显示器和光源。TIDASJ&MMSP400/800显微分光光度计在OLED/TFT/LED研究领域中广泛，目的是衡量和比较的光谱输出，每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。
   有机发光二极管（OLED）有一个发光的电致发光层，在支持矩阵有机分子组成。显示，这层是形成有序的行和列数以百万计的微观像素。由于不同的有机物是用来产生不同的颜色，与不同的有机化合物像素可以产生全彩色，高分辨率显示的不同颜色。OLED显示单元，不像传统的液晶显示器（LCD），最大的优点是像素结合光源和颜色源。这意味着，OLED显示屏更轻更薄，比一个液晶显示屏，使用更少的电力。然而，强度和颜色的光发射器件上的一致性是至关重要的。这是TIDASJ&MMSP400/800分光光度计得到使用的关键。
   TIDASJ&MMSP400/800是一种附加在显微镜上的分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速，并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台，TIDASJ&MMSP400/800可以用来衡量一个OLED显示屏的每个像素的颜色和强度。像素可以进行比较的强度和色彩的一致性或地图，可为每个设备生成。如TIDASJ&MMSP400/800可以获取几毫秒的时间顺序上的光谱仪器，整个OLED显示器可以快速，准确地映射。这将确保色彩和整个装置的强度，以及从设备到设备的一致性。以及在平板显示器领域，用来检查红、绿、蓝点阵的薄膜厚度和杂质水平。
   同时TIDASJ&MMSP400/800在半导体工业领域，可以用来发现能发荧光的微小污染物，以及在硅片被切成芯片前测量硅衬底上薄膜的厚度。J&M公司已在欧洲、美国、南非和亚洲安装了许多系统。

TIDASMSP400

   使用J&M的TIDASMSP400你可测量在透射模式下光纤的VIS光谱和在反射模式下（明场和暗场）光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是360nm到780nm。对于偏振实验，补偿的偏光板可嵌入到光纤束中。偏振光谱受限于光学显微镜，从450nm到700nm。在反射模式下，光谱范围为360nm到780nm。荧光测量和多套滤波器都是可用的（紫外光，蓝光和绿光激励是正常标准）。此外，快速扫描的单色光源（260nm到680nm）也是可用的。全光谱（240nm到900nm）通常可在小于1秒内获取。噪声和采集速度取决于所选择的领域，由灵活可调测量隔膜给出。使用40X物体时，最小光斑区域是2μm到2μm的。如果显微镜提供紫外光能力，MSP400可升级到MSP800。