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PHL残余应力测量仪图1

PHL残余应力测量仪

2024-07-13 12:08IP属地 广东170询价
价格 面议
发货 广东东莞市预售,付款后7天内  
品牌 PhotonicLattice
该产品库存不足
产品详情

  主要简介:  

  WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC等高分子材料,是Photoniclattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器,最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。

 主要特点:

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。

  • 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。

  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。

  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。

  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。

  • 可测样品尺寸更大。


  • 主要应用:
     

    · 光学零件(镜片、薄膜、导光板)

    · 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)

    · 透明树脂材料(PETPVACOPACRYLPCPMMAAPELCOC

    · 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)

    · 有机材料(球晶、FishEve

     技术参数

    项次

    项目

    具体参数

    1

    输出项目

    相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa


    2

    测量波长

    520nm543nm575nm


    3

    双折射测量范围

    0-3500nm


    4

    测量最小分辨率

    0.001nm


    5

    测量重复精度

    <1nm(西格玛)


    6

    视野尺寸

    33x40mm-240×320mm(标准)


    7

    选配镜头视野

    3×4-12.9×17.2mm


    8

    选配功能

    实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


    测量案例:

     


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