一、产品介绍
双光路设计在测量样品信号的同时监测光源能量波动,在测量时减少干扰,获得更高的测量稳定性,将仪器测量重复性指标提高至dE*ab≤0.005。保证了仪器测量速度、准确性、稳定性和台间差的高标准。相关技术受到中国发明专利和美国发明专利保护。
创新是彩谱的灵魂。历经近10年的潜心研究,采用创新的MEMS工艺制作的光栅结合阵列传感器,在纳米级光谱分辨率基础上让色彩测量更精准,再一次引领了行业创新方向,极大的提升了产品的技术表现。相关技术受到中国发明专利保护。
二、技术参数
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