仪器介绍:
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。
技术参数:
·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化
主要特点:
将激发和探测头引入生产设备,可实现:
·动态模式:实时监测膜厚变化
·光谱模式:监测薄膜的界面和组分
| 价格 | 面议 |
| 发货 | 广东东莞市预售,付款后7天内 |
| 品牌 | HORIBA科学仪器事业部 |
| 该产品库存不足 |
仪器介绍:
在镀膜或刻蚀的过程中,实时监测样品膜的膜厚以及光学常数(n,k)变化。
技术参数:
·可实现快速、实时在线监测样品膜层变化
主要特点:
将激发和探测头引入生产设备,可实现:
·动态模式:实时监测膜厚变化
·光谱模式:监测薄膜的界面和组分