Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。
Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。
搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD搭载狭缝式Beam'R2的M2测量仪：M2DU-BR ngstyle="text-align:justify;">WinCamDM2Stage
DataRay模块化设计的M2测量系统为用户提供了M2测量的超高灵活性。通过厂家提供的电子表格，用户可以选择理想的M2测量配置：不同参数的相机式或狭缝扫描式的光束质量分析仪、不同焦距的透镜可选、50mm或200mm长的位移台可选。光束质量分析仪不仅可以在M2平台上用于测量M2值，还可以可拆卸下来单独使用。该系统既可测连续激光，也可测脉冲激光，使用灵活方便。 M2测量系统参数：波长范围190nm-16um位移台行程50或200mmM2测量范围1-50M2精度±5%M2重复性±2%
