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美国TEK泰克半导体参数分析仪4200A-SCS
2024-07-13 12:16IP属地 广东00询价
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ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">美国TEK Keithley 泰克半导体参数分析仪ngstyle="color:rgb(255,0,0);font-family:Arial;font-size:12px;white-space:normal;padding:0px;margin:0pxauto;">4200A-SCS使用4200A-SCS加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V测量。 直流电流-电压(I-V)范围：10aA-1A，0.2μV-210V电容-电压：(C-V)范围，1kHz-10MHz，±30V直流偏置脉冲：I-V范围：±40V(80Vp-p)，±800mA，200MSa/s，5ns采样率 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">参数查看，快速清晰。 大胆发现从未如此容易。4200A-SCS参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。另外，嵌入式测量专业知识（业界首创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">特点· 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语· 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试· 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">测量、 切换、 重复。 4200A-CVIV多通道切换模块自动在I-V和C-V测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同，四通道4200A-CVIV显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">特点· 无需重新布线即可将C-V测量移动到任何设备终端· 用户可配置低电流功能· 个性化输出通道名称· 查看实时测试状态 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">检定、 自定义、 最大化。 简单地说，4200A-SCS可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">特点· NBTI/PBTI测试· 随机电报噪声· 非易失内存设备· 稳压器应用测试ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">带分析探测器和低温控制器的集成解决方案。4200A-SCS参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括CascadeMicroTech、LucasLabs/Signatone、MicroManipulator、WentworthLaboratories、LakeShoreModel336低温控制器。 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">特点· “点击”测试定序· “手动”探测器模式测试探测器功能· 假探测器模式无需移除命令即可实现调试 ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">降低成本并保护您的投资 保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。 
