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显微角分辨光谱仪
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显微角分辨光谱仪
最小0.1°角分辨/400~1700nm超宽谱段/微米级样品
ARMS显微角分辨光谱仪 支持微米级样品全自动角分辨多模式光谱测量。得益于优秀的色差、像差控制及分波段的光路设计，ARMS可在显微尺度、400~1700nm和0.1°角分辨率的能力下，同时获得角度(k)、频率(ω)、光谱(λ)完整信息，为您在光子晶体、拓扑光子学、超构材料和光-物质强耦合等研究领域提供卓越的解决方案。
ARMS显微角分辨光谱仪 ngstyle="font-size:15px;text-indent:1.8em;color:rgb(142,142,142);"> 典型应用领域：
NanoPhotonics 随着以光子晶体、SPP材料、超材料为代表的微纳光子材料的开发和应用，单纯光谱分析技术已无法满足完备表征该类光子材料光学性质的需求，更精细化的角分辨光谱技术应运而生。
微腔光子器件 微腔光子器件受构型影响，光学性质具有角分布特征，需在不同角度下实现光谱探测。
超表面透镜 利用超表面技术（meta-surface）设计的超表面透镜具有强大的光场调控能力，能够实现亚波长的汇聚和微米级的聚焦，需要一种新型的基于显微平台的角分辨光谱探测手段。
ARMS显微角分辨光谱系统在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 超过60°的角度 ARMS优选Olympus大N.A.平场复消色差物镜，收集超过60°的角向辐射光谱；匹配智能算法，快速实现包括 透射 / 反射 / 辐射(荧光) 等 9 种光谱测量模式； 2 达5个维度的空间选择 ARMS内置一个可调Aperture，可以实现X/Y方向开口距离调节，XY两维平面位置平移，及平面内θ方向旋转，准确抓取 复杂形貌 的微区样品； 3 最小0.5°角分辨率 ARMS采用特殊优化的消色差、消相差光路，能够将角度分辨率提升至0.5°，显著提升光谱分析能力； 4 1.65μm近红外拓展 NEW ARMS重新对角分辨光路系统进行构型， 在近红外波段900~1650nm实现角分辨光谱测量，对推动光通讯、超表面、激光雷达等领域研究具有重要价值； 5 低温+磁场拓展 新一代ARMS也拓展了对低温和磁场环境的支持，可适配最低2.7K 低温恒温器 和最高5T磁场强度 超导磁体； 6 除此之外，ARMS还可与外部光源及PrincetonInstruments光谱仪衔接，实现包括时间分辨、空间相干性、瞬态光谱采集等功能。
技术起源：角分辨光谱技术（Angle-resolvedSpectroscopy,ARS），诞生于复旦大学，是一种 精细化 的光谱技术。基于该技术而生的角分辨光谱仪具有在 不同角度下 探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散关系，实现光学性质“全面表征”的重要手段，在 微纳光子学、低维材料、发光材料 等领域具有重要应用价值。
