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MetronLens超构透镜光学检测系统

2024-07-13 12:19IP属地广东00询价

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产品详情

MetronLens，超构透镜光学检测系统

“光场+相位+远场”/全面表征/简单易用

MetronLens超构透镜光学检测系统 综合了显微成像技术、离轴数字全息技术以及远场成像技术等多种先进技术。通过宽波段色差校正和消像差设计，实现了在微米尺度下400~1700nm的三维光场分布、相位分布和远场分布的原位检测，深刻揭示了超构表面、超构透镜、微透镜阵列等平面光学元件的内在物理特性，为验证设计的准确性、制备加工工艺的优化提供了强有力的检测工具。

ngstyle="color:rgb(142,142,142);">MetronLens超构透镜光学检测系统

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ngstyle="color:rgb(142,142,142);">典型应用领域：

超构表面(Metasurface) 是一种由亚波长的微纳结构组成的平面结构，可以高自由度的对光波进行调控和操纵，因此超构表面的研究需要测量它所调控的光场分布和相位分布。

微透镜阵列(MicrolensArray，MLA) 是由尺寸只有几十微米和数百微米的微型透镜构成的阵列，因此微透镜阵列的研究需要微米尺度的单透镜检测能力。

衍射光学元件(DiffractiveOpticalElements,DOE) 是基于光的衍射效应而设计的光学元件，核心是对光的相位进行调制，需要高分辨率的相位测量。

MetronLens超构透镜光学检测系统在以上领域的应用得益于如下几个创新点ngstyle="text-indent:1.8em;">：

1 毫秒级相位检测：MetronLens基于“微型透镜检测系统及其检测方法”发明专利和离轴外差干涉技术，在显微体系下实现了毫秒级相位分布检测，相位分辨率最小可达50mrad；

2 高空间分辨率：采用优异光学设计，结合大NA（大于0.75）高倍率的成像系统和高像素数探测器，确保大视场下空间分辨率可达0.6μm；

3 高精度z轴扫描：配有三轴全闭环超高精度电控位移台,能够轻松实现0-24mm行程的光场扫描，z轴扫描定位精度最小可达到1μm；

4 可扩展性强：系统配件激光路由器，支持扩展外部激光光源，包含3路空间光和1路光纤，可满足多样化的波段测试需求。

注：以上参数如有差异，以官网为准。