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PhotonicLattice红外双折射（内应力）测量仪WPA-200-NIR
2024-07-13 12:20IP属地 广东20询价
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PhotonicLattice |
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产品详情
PhotonicLattice红外双折射（内应力）测量仪WPA-200-NIR
主要特点：红外波长的双折射/相位差/内应力面分布测量硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估小型、簡単操作、高速測量 WPA-200-NIR能高速的测量/分析波长为850nm的双折射分布安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
WPA-200-NIR的功能1. 高速测量面的双折射/相位差分布 NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
2. 测量数据的保存/读取 全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等3. 丰富的图形创建功能 从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出
主要技术参数
型号WPA-200-NIR
测量范围0~3500nm
重复精度<1.0nm
测量尺寸范围3×4mm~100×133mm
像素数384*288pixels
测量波长810nm，850nm870nm
尺寸270x337x631mm
自身重量13kg
