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PHL双折射应力仪WPA-Micro
2024-07-13 12:20IP属地 广东10询价
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面议 |
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| 品牌 |
PhotonicLattice |
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产品详情
应力双折射仪WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪ngstyle="white-space:normal;">应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。
ngstyle="font-size:14px;white-space:normal;">PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO
匹配显微镜测量双折射
测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体
薄膜、金属晶体、不透明基板等材料
在显微镜视场下评估和管理双折射分布ngstyle="font-size:14px;white-space:normal;">PHL应力双折射仪器参数：型号
WPA-Micro
测量范围
0-4000nm
重复性
<1.0nm
像素数
384x288
测量波长
523nm,543nm,575nm
尺寸
250x487x690.0mm
观测到的面积
5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um.
自身重量
11kg
数据接口
GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）
电压电流
AC100-240V（50/60Hz）
软件
WPA-View（forMicro）
