本产品为光学仪器（含X射线）的检测配置高低温原位样品环境的专用测试台，可实现-196~600℃的温度调控，观测和记录材料随温度变化过程中产生的结构和形貌变化，结合光学仪器的检测手段采集应变数据做定量分析。
GK-THMS350
最高温度
350℃
最低温度
-196℃
最大升温速率
30℃/min
最大降温速率
30℃/min
温控方式
PID动态调节
温度传感器
PT100
本产品适用于材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学针对材料特性的研究，与各种光学测试仪器或电子显微镜联合使用，用户可以自由设定温度的阶段变化，实现快速的加热或冷却样品，在微观上观测材料的形貌变化，结合光学仪器的测试数据可对内部结构变化做定量分析。
