ase"id="ctl00_IndexHolder_Caption"style="font-family:微软雅黑;font-size:30px;white-space:normal;color:rgb(36,96,167);height:45px;width:680px;display:inline-block;">R3反射光谱测量系统 ase"id="ctl00_IndexHolder_SubCaption"style="font-family:微软雅黑;font-size:20px;white-space:normal;color:gray;width:680px;display:inline-block;">多角度反射率光谱测量
ase"id="ctl00_IndexHolder_Abstract"style="font-family:微软雅黑;font-size:14px;color:rgb(38,38,38);">反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。
