| 波长范围 | 400-2500nm |
产品特点
Co-Aligned HP集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪，其中，VNIR (400-1000nm)的感光元件为低功耗，高灵敏度的 CMOS传感器，像元尺寸为5.86μm，SWIR（900-2500nm）的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器，像元尺寸为15μm，而分光光路均基于Headwall公司核心技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术，不仅保证了极低杂散光和成像畸变，同时也具有极高的热稳定性和信噪比。
另外，Co-Aligned HP结构紧凑，是一套完整的Turnkey解决方案，重量仅为4.0kg，内部除了集成有高光谱成像仪外，同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块，高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中，系统配有大尺寸反射率定标毯，尺寸为3*3m，包含三种梯度反射率，可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正，反射率校正和几何校正等。
Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成，专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。
详细介绍
Co-Aligned HP 高光谱成像仪的光谱范围为400-2500nm，即一台设备直接覆盖可见光到短波红外的光谱范围。其应用包括树种分类、高光谱探矿、地质灾害调查、矿物精细识别、高光谱找矿、矿物填图、火山监测等。
Co-Aligned HP集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪，其中，VNIR (400-1000nm)的感光元件为低功耗，高灵敏度的 CMOS传感器，像元尺寸为5.86μm，SWIR（900-2500nm）的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器，像元尺寸为15μm，而分光光路均基于Headwall公司核心技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术，不仅保证了极低杂散光和成像畸变，同时也具有极高的热稳定性和信噪比。
另外，Co-Aligned HP结构紧凑，是一套完整的Turnkey解决方案，重量仅为4.0kg，内部除了集成有高光谱成像仪外，同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块，高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中，系统配有大尺寸反射率定标毯，尺寸为3*3m，包含三种梯度反射率，可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正，反射率校正和几何校正等。
Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成，专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。
