详细介绍
SI-FZ斐索干涉仪
斐索干涉仪原理为等厚干涉，单色光束在标准平面或标 准球面上，部分反射为参考光束 ；部分透射并通过被测件后 反射回来的光束作为检测光束。检测光束自准返回，与参考 光束重合，形成等厚干涉条纹。斐索干涉仪是检测光学元件 面形、光学镜头波面像差以及光学材料均匀性等参数的一种 精密仪器。
SI-FZ斐索干涉仪实验原理图：
SI-FZ斐索干涉仪组件表：
SI-FZ斐索干涉仪实验原理图：
组件
干涉仪光学系统由各种组件构成，为了更加便捷的搭建或改造实验系统，也可进行单独选购。
干涉仪光学系统由各种组件构成，为了更加便捷的搭建或改造实验系统，也可进行单独选购。
