详细介绍
产品名称：显微熔点仪
产品型号：SGW®X-4
SGW®X-4显微熔点仪产品特点：
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
显微熔点仪SGW®X-4主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃ （在＜200℃ 时）
±2℃（在20 .0℃ 一320℃ 时）
温度显示最小值： 1℃
熔点观察方式 单目显微镜
光学放大倍数 40× 。
| 产品名称 | 型号 | 技术参数 |
| 显微熔点仪(数显) | SGW®X-4 | 范围：室温~320℃，最小读数单位:1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
| 显微熔点仪(数显) | SGW®X-4A | 范围：室温~320℃，最小读数单位:0.1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) |
| 显微熔点仪(数显) | SGW®X-4B | 范围：室温~320℃，最小读数单位:0.1℃， 重复性：±1℃(＜200℃)，±2℃(≥200℃) 双目体式显微镜，光学放大倍数：40倍-100倍 |
| 滴点软化点测定仪 (程控、液晶数显) | WQD-1A | 范围:室温~300℃ 最小读数单位:0.1℃ |
