详细介绍
特点：
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
主要技术参数：
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃（在＜200℃时）
±2℃（在20 .0℃一320℃时）
X-4 | X-4A | X-4B | |
温度显示最小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
熔点观察方式 | 单目显微镜 | 单目显微镜 | 双目体视显微镜 |
光学放大倍数 | 40× | 40× | 40×-100×连续变倍 |
技术资料
- 上海仪电科仪X-4系列显微熔点仪产品样册
