Napson CRESBOX半自动四探针测试仪

主要用途

CRESBOX半自动四探针测试仪可用于测试硅晶片及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、金属薄膜等材料的电阻率和方块电阻。

特点

?  具有图谱软件功能，可作二维、三维图形；

?  具有厚度/边缘/温度补偿功能；

?  全覆式暗箱测试清除测量环境干扰；

?  内含温度传感器

?  USB接口。