赛默飞（原FEI)VeriosXHRSEM

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Verios的电子工业应用

VeriosXHRSEM推出了全新的检测器硬件，将SEM的观测能力进一步拓展至20nm亚纳米量级半导体器件。Verios可提供最佳的低电压SEM分辨率和材料对比度，能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统SEM仪器成像的极小结构。  Verios还包括一些易于使用的新功能，能够为22nm技术节点及以下的半导体结构提供最低的每样本成像和测量成本。

Verios的材料科学应用

对材料科学家来说，Verios可以将亚纳米表征拓展到当下正在开发的全新材料（例如催化剂颗粒、纳米管、孔隙、界面、生物对象和其他纳米量级结构），从而让他们获得重要的新发现。无需转而采用TEM或其他成像技术便可获得高分辨率、高对比度图像。Verios可灵活用于各类研究应用，能够容纳全尺寸晶圆或冶金样本之类的大样本。您可以在高电流模式下执行快速分析，也可以开展精确的原型设计应用，例如电子束感应式材料直接沉积或光刻。