ZEISSGeminiSEM500场发射扫描电子显微镜

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GeminiSEM系列产品

高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜

为对任意样品进行高水准的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。

GeminiSEM500具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；

更强的信号，更丰富的细节

GeminiSEM500为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。

• 经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；

• 在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1kV达0.9nm，500V达1.0nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；

• 应用样品台减速技术-（Tandemdecel），可在1kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；

• 创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。

洞察产品背后的科技

Gemini电子光学系统

Gemini1类型镜筒-延续创新和发展

如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。

低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：

• 电子束敏感样品

• 不导电样品

• 获取样品极表面的真实形貌信息

Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twinlens物镜(GeminiSEM500)、以及Tandemdecel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。