赛默飞TalosF200XS/TEM透射电子显微镜_显微镜_光学设备_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	赛默飞
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

TalosF200XS/TEM

产品描述

TalosF200X扫描

/透射电子显微镜

(S/TEM)具有最为快速、准确且量化的多维纳米材料表征分析能力。TalosF200XS/TEM的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适于学校、政府和工业研究环境中的纳米级研究与分析。

高分辨率成像，获取更高质量的数据

ThermoScientificTMTalosTMF200XS/TEM融合了出色的高分辨率STEM和TEM成像功能与行业领先的能谱仪(EDS)信号检测功能及基于成分分析的三维化学表征功能。ThermoScientificVeloxTMS/TEM控制软件通过智能扫描引擎、基于多个STEM探测器的四通道集成以及用于分辨样品磁畴、电畴分布的差分相位衬度(DPC)成像，大幅改善了成像效果。可为EDS数据处理和量化分析提供极高的速度和精确度。

X-FEG高亮度电子枪可提供更高的总电流(最高为标准肖特基FEG电子束电流的五倍)，同时可维持较小的会聚角。您可以获取STEM、EDS和高分辨率TEM应用所需的卓越的图像分辨率和信噪比。X-FEG不仅非常稳定，而且寿命很长，可实现出色的成像效率。

视野更大，速度更快

TalosD/TEM上的快速TEM成像支持高分辨率和原位动态观察。ThermoScientificCeta16MTM相机具有大视场并能够以

25fps的快速率捕捉图像，同时压电载物台可确保高灵敏度、无漂移成像和精确样品导航，从而节约时间并允许您从每个样品中获取更多数据。

加快纳米级分析以更快获取答案

TalosF200XS/TEM包括获得专利的

ThermoScientificSuper-XTM、集成四个硅漂移探测器(SDD)的EDS系统，可提供出色的灵敏度和高达105光谱/秒的扫描能力。与X-TWIN物镜集成，可最大限度提高收集效率，同时可实现给定电子束电流(甚至是低强度EDS信号)的出色输出计数率。

更轻松地开展研究

凭借友好的数字用户界面和领先的人体工程学设计，TalosS/TEM使成像和分析工作流程可为更多科学家所用。快速的图像采集，加之易于使用的操作平台，即使是经验不足的操作者也能够快速收集结果。人机分离的远程操作设计显著提高了易用性，舒适性和电镜的稳定性。此外，为了确保维持工作效率，TalosS/TEM配备了新型设备状态记录和诊断软件。该软件可收集主要的仪器参数，有助于远程诊断和支持。

特点与用途

主要优势

更好的图像数据:配备同步多重信号检测的高通量STEM成像可实现更好的对比度，从而可提供高质量图像

更短的化学成分数据生成时间:快速、精确且量化的EDS分析可揭示纳米级细节

强大的应用扩展能力:添加特定应用的原位样品杆以开展动态实验

功能

领先的光学性能 :恒定功率 X-TWIN物镜

最大程度提高易用性:快速轻松的操作切换，适用于多用户环境

超稳定平台 :恒定功率物镜、压电载物台、牢固的系统机壳和远程操作可确保最高的稳定性

SmartCam摄像头 :数字搜索和查看摄像头显著提高了操作便利性，让使用者可以离开暗室进行远程操作。

完全集成的快速相机 :Ceta16M像素 CMOS相机可提供大视场和高读取速度(512x512时为 25fps)

全面的远程操作 :自动光阑系统与 Ceta相机相结合，支持全面的远程操作

丰富的分析功能 :TalosS/TEM使用 EDS立体成像技术将样品成分分析功能从二维扩展至三维。

产品参数

X-FEG亮度

1.8×109A/cm2srad(200kV时)

总电子束电流

>50nA

束斑电流

1.5nA@1nm束斑

(200kV)

Super-XEDS系统

采用对称设计的SDD能谱探头，无窗设计，受机械快门保护

能量分辨率

Mn-Kα和

10kcps时

≤136eV(输出)

快速EDS面分析

像素驻留时间短至10μs

STEMHAADF分辨率

0.16nm

EDX立体角

0.9srad

TEM信息分辨率0.12nm

最大衍射角度24?

双倾样品杆的最大倾斜角度±

35°α倾角/±30°β倾角

样品台最大倾斜角度

±90?

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