日本JEOL场发射透射电子显微镜JEM-F200_显微镜_光学设备_仪器设备_供应

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基本参数

品牌：	N/A
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

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ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">日本JEOL场发射透射电子显微镜JEM-F200

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">产品规格：

超高分辨极靴

高分辨极靴

分辨率

TEM点分辨率

0.19nm

0.23nm

STEM-HAADF像

0.14nm@冷场枪

0.16nm@冷场枪

0.16nm@热场枪

加速电压

200,80kV

主要选配件

能谱仪（EDS）、电子能量损失谱仪（EELS）、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">产品特点：

· 以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">外观设计精炼

· 精炼的外型，全新的视觉感受。为分析型电镜全新设计的GUI，使操作更加直观方便。JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现，与旧机型相比，电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">四级聚光镜系统

· 现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术---从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lenscondensersystem”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">高端扫描系统

· JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析，该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上，增加了新的扫描系统-“AdvancedScanSystem”即成像系统的电子束扫描功能（选配）。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">皮米样品台驱动

· JEM-F200采用能以皮米级步长移动样品台的Picostagedrive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">SpecPorter（自动插入和拔出样品杆的装置）

· 插入和拔出样品杆，对电镜初学者来说一直是高难度的操作。JEM-F200配备的SpecPorter，即使新手也能轻松掌握，将样品杆安装在指定的位置上，只用一个按钮即能安全地插入或拔出。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">改进的冷场发射电子枪

· JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪（选配），该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析，高亮度的电子束缩短了分析时间，并且还降低了来自光源的色差，实现了高分辨率的观察。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">双能谱（SDD）

· JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器（SDD）（选配件）。凭借更高的灵敏度，EDS分析速度更快，对样品的损伤更小。

ngstyle="padding:0px;margin:0pxauto;">环保节能

· JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5，可以在装置不运行时，以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能，能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。

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