SpectraS/TEM扫描透射电子显微镜_显微镜_光学设备_仪器设备_供应

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mportant;">Spectra新的检测功能，使科学家和工程师能够获得以前难以获得的原子级数据，以满足更广泛的应用需求。该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像，包括金属有机框架，沸石和聚合物，如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用EDX（能量分散X射线）或EELS（电子能量损失光谱）等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。

inkMacSystemFont,"HelveticaNeue","PingFangSC","HiraginoSansGB","MicrosoftYaHeiUI","MicrosoftYaHei",Arial,sans-serif;letter-spacing:0.544px;text-align:justify;white-space:normal;background-color:rgb(255,255,255);overflow-wrap:break-word!important;">nstyle="margin:0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;display:inline-block;width:677px;vertical-align:top;background-color:rgb(255,243,243);">mportant;">nstyle="margin:0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;border-bottom:1pxsolidrgb(238,49,52);">nstyle="margin:auto;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;width:0px;border-top:9pxsolidrgb(238,49,52);border-left:9pxsolidtransparent!important;border-right:9pxsolidtransparent!important;">nstyle="margin:-10pxauto0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;width:0px;border-top:9pxsolidrgb(255,255,255);border-left:9pxsolidtransparent!important;border-right:9pxsolidtransparent!important;">mportant;">nstyle="margin:0px;padding:15px10px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;display:inline-block;width:677px;vertical-align:top;">nclass=""powered-by="xiumi.us"style="margin:0px;padding:0px10px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;font-size:15px;color:rgb(238,49,52);line-height:2;letter-spacing:0.5px;">mportant;">ngstyle="margin:0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;">该平台包括几项新功能，使S/TEM显微镜更上一层楼，ngstyle="margin:0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;">包括：

inkMacSystemFont,"HelveticaNeue","PingFangSC","HiraginoSansGB","MicrosoftYaHeiUI","MicrosoftYaHei",Arial,sans-serif;letter-spacing:0.544px;text-align:justify;white-space:normal;background-color:rgb(255,255,255);overflow-wrap:break-word!important;">nstyle="margin:0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;border-bottom:1pxsolidrgb(238,49,52);">nstyle="margin:auto;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;width:0px;border-top:9pxsolidrgb(238,49,52);border-left:9pxsolidtransparent!important;border-right:9pxsolidtransparent!important;">nstyle="margin:-10pxauto0px;padding:0px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;width:0px;border-top:9pxsolidrgb(255,243,243);border-left:9pxsolidtransparent!important;border-right:9pxsolidtransparent!important;">inkMacSystemFont,"HelveticaNeue","PingFangSC","HiraginoSansGB","MicrosoftYaHeiUI","MicrosoftYaHei",Arial,sans-serif;letter-spacing:0.544px;text-align:justify;white-space:normal;background-color:rgb(255,255,255);overflow-wrap:break-word!important;">nstyle="margin:0px;padding:0px10px;max-width:100%;box-sizing:border-box;word-wrap:break-word!important;font-size:15px;line-height:2;letter-spacing:0.5px;">mportant;overflow-wrap:break-word!important;">

mportant;">更高亮度的电子源：特别明亮的冷场发射枪（X-CFEG）是一种提供更高对比度成像的新技术。对于化学分析和X射线分析，它提供的信号是当前一代TEM中传统CFEG源的两倍以上，空间分辨率高出10％以上。结果是更高质量的成像和分析以更高的分辨率，允许用户检查更广泛的材料。

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mportant;">更简单的电气特性分析：新的X-FEG/Ultimono光源允许研究人员和工程师并行生成复杂的高能量分辨率数据，而不是为此单一目的专用单独的工具。这有助于加速新材料的开发，因为研究人员将更好地了解与其他关键属性平行的电学行为。

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mportant;">高动态范围映射：电子显微镜像素阵列检测器（EMPAD）是一种高速像素化STEM检测器，允许研究人员执行大量高级应用，如Ptychography，用于超高分辨率和信号的用户分段。这有助于揭示对于新材料和工艺的开发至关重要的更多属性。

品牌：	赛默飞
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

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