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更新 2024-07-13 11:43
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基本参数

品牌：

 牛津仪器

所在地：

 广东 东莞市

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 ≥1 PCS

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 未填

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详细说明



UltimMaxTEM，搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新设计80mm2的传感器，进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMaxTEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件,为200kV下EDS分析提供高质量数据。

·      0.2-0.6srad的立体角

·      对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

·      可在400,000cps的计数率下进行定量分析

在原位实验中，可在1000°C的温度下采集谱图




旗舰款SDD传感器UltimMaxTLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。

这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。

  • 0.5-1.1srad的立体角

  • 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍

  • 可在400,000cps的计数率下进行定量分析

    • 在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图




    XploreTEM是专门为120kV和200kV透射电镜（TEM）的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件,为用户提供快速和准确的元素表征。

  • 0.1-0.4srad的立体角

  • 从Be到Cf的元素检测

  • 可在200,000cps的计数率下进行定量分析

    • SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性


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