第八代多功能扫描探针显微镜Bruker

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技术参数：

1.显微镜：多种可选MultimodeSPM扫描头
AS-0.5系列：横向(X-Y)范围0.4µm×0.4µm,竖直(Z)范围0.4µm
AS-12系列：横向(X-Y)范围10µm×10µm,竖直(Z)范围2.5µm
AS-130系列：横向(X-Y)范围125µm×125µm,竖直(Z)范围5.0µm
PF50：横向(X-Y)范围40µm×40µm,竖直(Z)范围20µm
2.噪声：垂直(Z)方向上的RMS值＜0.3埃（带防震系统的测量值）
3.样品大小：直径≤15mm,厚度≤5mm
4.针尖/悬臂支架：
    空气中轻敲模式/接触模式(标准)
   液体中轻敲模式/力调制(可选) 
    空气中力调制(可选)；电场模式(可选)
    扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
    STM转换器(可选)
   低电流STM转换器(可选)；接触模式液体池(可选)
   电化学AFM或STM液体池(可选)
    扭转共振模式(可选)
5.防震和隔音：
    硅胶共振模式(可选)
    防震三脚架(可选) ；防震台(可选) 
    集成的防震台和隔音罩(可选)

主要特点：

1.世界上最高的分辨率
2.出众的扫描能力
3.优异的可操作性
4.非凡的灵活性与功能性
5.无限的应用扩展性
Multimode可以实现全面的SPM表面表征技术，包括：
 轻敲模式(TappingModeAFM)
 接触模式(ContactModeAFM)
 自动成像模式(ScanAsyst)
 相位成像模式(PhaseImaging)
 横向力术模式(laterialForceMicroscopy,LFM)
 磁场力显微术(MagneticForceMicroscopy,MFM)
 扫描隧道显微术(ScanningTunnelingMicroscopy,STM)
 力调制(ForceModulation)
 电场力显微术(ElectricForceMicroscopy,EFM)
 扫描电容扫描术(ScanningCapacitanceMcroscopy,SCM)
 表面电势显微术(SurfacePotentialMicroscopy)
 力曲线和力阵列测量(Force-DistanceandForceVolumeMeasurement)
 纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
 电化学显微术(ElectrochemicalMicroscopy,ECSTMandECAFM)
 皮牛力谱(PicoForceForceSpectroscopy)
 隧道原子力显微术(TunnelingAFM,TUNA)
 导电原子力显微术(ConductiveAFM,CAFM)
 扫描扩散电阻显微术(ScanningSpreadingResistanceMicroscopy,SSRM)
 扭转共振模式(TorsionalResonancemode,TRmode)
 压电响应模式(PiezoRespnancemode,PRmode)
 其他更多模式....





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