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DimensionFastScan
扫描速度的全新诠释，拥有高的扫描分辨率，优异的仪器检测性能
DimensionFastScanTM原子力显微镜（AtomicForceMicroscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度>125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。
DimensionFastscan将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。
■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。
■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。
■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。
■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。
■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s，X-Y方向的跟踪误差<1%。
■自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。
■系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。
新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到好的激光信号调节。
■针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了低的噪音和热漂移水平。
DimensionFastScanAFM的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。DimensionIcon配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。
杰出的生产力
使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更卓越的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。DimensionFastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。DimensionFastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的DimensionAFM平台，三者结合提供了无与伦比的AFM仪器性能，保证您在短时间内得到测试结果并发表出版。
DimensionFastScan展现出的无与伦比的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。DimensionFastScan支持AFM的所有模式和力学、电学和电化学附件。
无与伦比的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要
出众的性能满足各种应用需求
DimensionFastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM技术，模式和模式增强功能，DimensionFastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的PeakForceQNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描
管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。
可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。
加热和冷却
在以各种AFM模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。
电学表征
使用模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForceTUNA™和PeakForceSSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。
利用短时间获得高质量可发表数据结果
无论是作为科研交流还是发表科学文章，DimensionFastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。
样品筛选
动态应用范例
另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是极具研究价值的。DimesionFastScan为这种实验提供了极为便利的条件。
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