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仪器简介：
是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应，可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。
只有NTEGRASpectra能在软件、硬件等技术方面为集成Renishaw的拉曼光谱系统提供完美的方案，以便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成，能让用户极大的提高工作效率，将更多的时间用于数据采集和分析，而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。所以，可以负责任的说：真正的集成是远远优于简单的组合的。
NTEGRASpectra系统集成了激光扫描共焦光谱仪、光学显微镜和常规的扫描探针显微镜。该系统能用于发光光谱和拉曼散射的三维成像、所有的SPM功能，包括纳米压痕、纳米加工和纳米刻蚀等。.
除了光学检测外，NTEGRASpectra还可使用SPM的方法来研究样品，诸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力谱等等。这样独特的集成了光学方法和扫描探针方法合二为一的系统，为用户完成复杂的实验变成可能，用户可从实验中得到样品的光学分布信息、化学性质、力学性质、电学性质和磁学性质等。
NTEGRA Spectra在检测样品时，能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。近场光学显微镜和TERS系统能让用户得到光学性质分布图（激光传输、散射和偏振等）的同时获得拉曼散射光谱和高达50nm的XY方向分辨率。
技术参数：
可见光谱测量 (390-800nm)
激发光路中配置手动式格兰-泰勒起偏棱镜 390-1000nm
检测光路中配置电动式格兰-泰勒检偏棱镜 390-1000nm
三轴定位电动式1/2波片
光束分离器
可选配倏逝激发系统（用于TERS）
Z：500nm
最大扫描范围：100x100x25um
XYZ三维全量程闭环控制扫描系统
XY方向非线性度：0.03%（典型值）
Z方向噪音水平：<0.2nm（典型值）
XY方向噪音水平：<0.5nm（典型值）
注：无论样品是否透明，都可用我们的共聚焦显微镜在空气或液体环境中对其进行研究。
用于光子计数的APD***：光谱相应范围：400–1000nm，暗计数=25/秒，提供高达1GHz计算速度的PCI 卡。*标准配置中包括一套488nm激光器，其他波长激光器可选配
**可选配其他光栅。小阶梯光栅具有最高的光谱分辨率
***可选用PMT
功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，荧光模式（选配）
V型槽光纤固定器
装配40x物镜
光纤传输系统KineFlexTM
光束衰减器：可配多种减光镜
XY二维样品移动平台：样品定位范围5x5mm，样品定位精度5um
XYZ三维全量程闭环控制扫描系统
样品扫描式 针尖扫描式
扫描范围100x100x25um 100x100x7um
非线性度 XY0.03%（典型值） <0.15%
噪音水平 Z<0.2nm（典型值） 0.04nm（典型值），<=0.06nm
噪音水平 XY<0.5nm（典型值） 0.2nm（典型值），<=0.3nm
石英音叉基频 190kHz
光纤孔径 <100nm
透射模式/荧光模式
灵敏度：3x1010，420nm时
被动式：大于1kHz
功能模式：AFM（接触+半接触+非接触）/侧向力模式/相位成像模式/力调制模式/粘滞力成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/扩展电阻成像模式/刻蚀：AFM（力和电流）
*扫描头部可单独使用，此时对样品尺寸和重量无限制
**内置的电容传感器拥有极低的噪音水平，即使降到50x50nm的区域也可以用闭环控制来扫描
主要特点：
AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中—在TERS中，这是必要的条件。在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。
高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度—为长程和微弱的信号而设计。
反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。
电冷至-70°C的CCD，用于光谱探测和成像。
也可选用APD来进行光子计数。
在激发通道和检测通道中，用户可灵活方便的配置偏光光路。
多功能的集成软件控制系统，所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等，都可由软件来切换或调节。
NT-MDT可根据用户需求定制不同使用需求的TERS系统。
粤公网安备44196802000105号
400-6226-992