Arctis冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为200nm或更薄的冷冻薄片,同时避免产生镓(Ga)离子注入效应。与目前市场上的其他cryo-FIB-SEM系统相比,ArctisCryo-PFIB可显著提高样品制备通量。
与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连
通过自动上样系统,ThermoScientific™Arctis™Cryo-PFIB可自动上样、自动处理样品并且可存储多达12个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜(如ThermoScientificKrios™或Glacios™)直接联用,省去了在FIB-SEM和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求,ArctisCryo-PFIB还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。



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