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日立

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ngstyle="font-family:微软雅黑,Meiryo,宋体,Simsun,Arial,Helvetica,sans-serif;font-size:14.4px;white-space:normal;background-color:rgb(255,255,255);">追求最完美的大样品仓FIB系统在高端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及TripleBeam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000。


运用高对比度,实时SEM观察和加工终点检测功能,可制备厚度小于20nm的超薄样品加工方向控制技术(Micro-sampling®*3系统(选配)+高精度/高速样品台*)对于抑制窗帘效应的产生,以及制作厚度均一的薄膜类样品给予厚望。TripleBeam®*1(选配)可提高加工效率,并能使消除FIB损伤自动化


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