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品牌 蔡司
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更新 2024-07-13 11:51
 
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基本参数

品牌:

蔡司

所在地:

广东 东莞市

起订:

≥1 PCS

供货总量:

未填

有效期至:

长期有效
详细说明
FIB是将离子源产生的离子束经过离子枪加速聚焦后作用于样品表面,应用于:产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM相似,用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工,通常是以物理溅射的方式搭配化学气体反应,有选择性的剥除金属,氧化硅层或沉积金属层

芯片领域应用:IC芯片电路修改,Cross-Section截面分析,FIB透射电镜样品制备,材料鉴定

液态金属离子源:分辨率3nm@30kv 120nm@1kv

检测器:InlensSEInlensEsBVPSE(可变气压二次电子探测器)SESI(二次电子二次离子探测器)、aSTEM(扫描透射电子探测器)、aBSD(背散射探测器)


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