冰污染防御系统_显微镜_光学设备_仪器设备_供应

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基本参数

品牌：	Delmic
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

Delmic强大的CERES冰污染防御系统，创新cryo-ET制样工作流程，应对制样中的冰污染

您知道吗，在cryo-ET样品制备过程中

平均40%的冷冻样品被冰污染而无法使用。

43%的被污染样品只有在TEM中才发现。

当发现的时候，然而这一切都太晚了，前期所有工作和TEM的机时都浪费了。

这些冰污染，冰晶覆盖或寄生冰生长在样品上，导致样品根本无法用于cryo-ET。然而当前的cryo-ET制样流程对这些问题束手无策。

让我们首先来看看这些冰污染是如何发生的吧：

冷冻玻璃化样品

装载C-CLipAutogrid

空气中湿气

温暖的呼气

潮湿的工具

都是冰晶的产生源头

转移到冷冻荧光显微（cryo-FLM）下定位ROI区域

环境中湿气，导致冰污染发生

将载网放入shuttle

因为被污染的液氮，导致冰晶沉积在样品表面

转移样品到FIB/SEM中进行铣削

在低/中真空环境中转移，发生冰污染或devitrification

FIB/SEM中铣削

寄生冰晶产生在样品表面和底部

寄生冰生长速度在~50nm/h左右

转移加工好的薄片到TEM中

在低/中真空环境中转移，发生冰污染或devitrification

转移样品到cassettte中

空气中湿气

温暖的呼气

潮湿的工具

都是冰晶的产生源头

这些问题导致您花费数小时的工作付之一炬，样品制备必须从头再来，导致重大损失：文章发表延误，基金用尽，博后出站被迫耽误等等。

现在荷兰delmic公司和世界顶尖研究机构德国马普研究所联合推出一套创新解决方案：CERES冰防御系统。CERES完美应对cryo-ET制样全流程（样品玻璃化，传输和薄片制备）中的冰污染问题，让您的样品冰污染最小化，稳定获得高质量可用的cryo-ET样品。

CERES冰污染防御系统重新定义了cryo-ET制样流程，解决过程中的冰污染发生源头。

CERESCLeanStation清洁工作站准备样品

提供无湿气的稳定环境（1ppm的水汽含量），完成C-CLip预装，转移样品到shuttle等

并与高真空转移无缝对接

CERESVitri-Lock高真空冷冻转移到FIB/SEM

保持样品始终玻璃化，无冰晶污染发生

支持30分钟以上的高真空冷环境，您可以从容转移。

FIB/SEM内置集成的FLM（delmicMeteor）进行ROI定位

高真空下午冰污染

CERESIceShield防护罩保护下进行Lemella的加工

阻止寄生冰的生长

在CERES防护罩的保护下，FIB可以持续加工多个lemella，无需担心寄生冰的生长。

高真空冷冻转移lemella到CEREScleanStation清洁工作站

在CERES清洁工作站内转移到Cassette和NanoCab中

有了delmic创新的CERES冰污染防御系统，您从中可以大获收益

让您的工作效率大幅度提升

轻松获得高质量和高分辨cryo-EM数据

赢得时间，降低科研成本

享受用户友好，环境友好的新工作流程。

CERES解决方案，改善工作流程让您稳定的获得高质量无冰污染的cryo-ET样品，不再浪费宝贵的时间和珍贵的样品。助力科学家专注科研，快速获得想要的数据，突破一个又一个生命科学研究难点。

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