蔡司裂变径迹显微分析系统

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ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品及其解决方案。通过我们不断改进的显微分析技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观分析世界的道路。

总体描述

蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统，实现智能自动化操作，对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计；能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值，依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。

产品特点

 ◆最佳优化的操作理念

 ◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统

◆全自动Z轴自动聚焦模块

 ◆保证最大稳定性和免振动工作的创新设计

 ◆统计辐照单矿物的裂变径迹数，分析计算矿物表观年龄，并模拟地质体热演化历史

技术参数

硬件光学系统：ICCS光学系统

1、 专业分析物镜：5X、10X、20X、50X、100X

2、 自动扫描台：行程130X85mm，步距为0.1μm，重复精度小于1.0μm

3、变倍转换器：1.25X,1.6X

4、图像采集：彩色数码冷CCD:500万像素，信实时采集，同步捕捉图像，传输速度快，同时显示。

5、 分析系统：自动识别待测对象，自动定位及查找功能，自动完成颗粒数目统计、测量径迹与C轴角度、能测量Dpar、Dper值等。所有的测试及结果（图片、表格、报告）均自动保存至数据库，可随时调用并返回当时的测量参数，保证可追溯测定结果；

用途

矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。

组成