裂变径迹显微分析系统IMEXTFTA_光学仪器_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	麦特微
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

IMEXTFTA

FissionTrackAnalysisSystem

裂变径迹显微分析系统IMEXTFTA产品介绍

IMEXT FTA裂变径迹分析系统

FissionTrackAnalysis System

1、 裂变径迹技术原理 FissionTrackPrinciple

矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变

引起晶格的损伤产生径迹

，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度

，可以确定矿物的年龄

。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。

裂变径迹显微分析系统IMEXTFTA原理示意

裂变径迹显微分析系统IMEXTFTA样品示意图

2、 高整合的自动分析系统 Automatic AnalysisSystem

系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备；项目化管理、流程化操作；主要用于矿物裂变径迹分析。

系统所配软件包，专为裂变径迹应用开发，可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄；可满足裂变径迹测量的各种需求。

设备图：

控制软件主界面图：

测量分析流程：

1) 新建样品项目，开始裂变径迹分析；或者打开已有样品项目，继续分析；

2) 样品全貌图扫描；

3) 样品光薄片/云母片定位；

4) 样品观察方式配置；样品拍照模式配置；

5) 目标颗粒选择；

目标颗粒Grain/Mice自动扫描；

7) 目标颗粒裂变径迹参数测量；

8) 裂变径迹数据统计；

9) 专用裂变径迹分析报告；

3、 样品全貌图扫描 SampleMAP

系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片，生成样品全貌图；包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。

4、样品定位&切换 Relocation &SWAP

系统支持样品粗定位和精细定位两种模式；确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。

Relocation

模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时，需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析

，需要进行来回切换观察

。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位

，让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察，该模块提供了记录功能，可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置

，对目标颗粒进行重定位

，方便下次观察和分析。

5、 智能显微镜控制 DigtalMicroscopeControl

系统支持智能显微镜控制，支持透射/反射、明场/偏光等观察方式，与样品位置Grain/Mice随动，支持智能光强管理，支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。

6、 目标颗粒选择 ObjectGrainSelect

系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒，用于后续拍照和测量。

7、 自动目标颗粒扫描AutoScanning/Snap

支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列，支持单颗粒超景深照片合成；支持多颗粒批量扫描，提高工作效率。

扫描过程照片自动抓拍、自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；提供图片浏览功能，可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能；

8、 径迹参数测量 TrackMeasurement

支持多种径迹参数的自动测量和人工测量，包含径迹数量、面积、最大，最小卡规直径及其比率等颗粒参数，且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。

9、 径迹统计&报告 Statistics&Report

支持多种径迹参数的标准统计，包含最大值、最小值、平均值、标准差等。

10、 数字薄片 DigitalSlice

支持按照样品项目管理，扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化，方便长期保存和后期分析，以及数据追溯。

11、 用心服务放心使用

全面的服务在于您的需要不只是一件产品，而在于您的企业或科研发展的同时，有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作

、使您领先便是我们成功之处。

系统自问世以来，深受广大学及研究所等用户的信赖和支持；一旦获取，终生免费升级。

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