平面平晶检测干涉仪_电子测量仪器_物性测定_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	HL
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

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（1）应用领域

●计量领域（平面平晶检测）

●半导体工业（晶片检测）

●大平板显示（平面检测）

●手机工业（背板检测）

●光学加工（窗口玻璃检测）

●高精度精密机械（平面元件检测）

●LED工业（蓝宝石衬底检测）

●数据存储和科研院校教学仪器等多种领域。

●平面平晶、窗口玻璃、光学平面、金属平面、陶瓷平面等

●光滑表面面形的高精度快速测量，90°直角棱镜和角锥测量。

（2）产品综述

无应力平面检测干涉仪是高性能模块化组合检测干涉仪中的一种，它采用组合式激光干涉仪作为核心部件，主要用于高效检测高精度平面。

该产品包括光源、主机、成像以及镜头和相移等四大模块，主要技术指标已达到国际水平,采用更加简便操作的俯式测量，拥有极高的测量精度和测量重复性，突破了一等平面平晶限制，且其采样点可达上百万像素，能客观反映被测平面全貌。不仅测量精度高，而且具有极高的测量效率。

此款干涉仪可广泛应用高精度光学元件制造、计量检测、生物医学、航空航天、国防、微电子、能源等众多领域，具有广阔的市场前景。

（3）参数性能

测量原理：

斐索干涉原理

光源波长：

632.8nm

样品准直：

使用两个光点

电源:

220V50HZ/110V60HZ

操作系统：

Windows7/10,32/64bit

CCD分辨率：

1280*960像素

软件：

H&L-p数字化相移分析软件

精密度：

入/600PV

重复性：

入/500PV

重复性：

入/1000RMS

透射平面镜精度：

A/20PV

◆材质均匀性

◆超精密平面/球面面形测量

◆光学系统装调和校准

◆光学组件透射波前测量

◆光学均匀性测量

◆平行度测量

◆角锥角度测量

◎◎我们会倾听您的需求，支持特殊需求定制

部分客户群体：苏州计量院,上海计量院,福建计量院,上海光机所,石家庄13所,上海现代先进超精密制造中心有限公司UPEC,长春理工,上海理工等。

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