bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200

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ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的

ngstyle="color:rgb(79,129,189);font-size:14px;">测量与分析功能

·易于使用的界面，可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO25178,ASMEB46.1,ISO4287等标准在内的定制化分析报告

先进计量设备

·基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。

·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。

·ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。

高性能表面计量 

·放大倍率无关的业界好Z轴分辨率

·大尺寸的标准视场

·稳定集成防震设计