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品牌 上海上分
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更新 2024-07-13 15:04
 
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产品详情

基本参数

品牌:

上海上分

所在地:

广东 东莞市

起订:

≥1 PCS

供货总量:

未填

有效期至:

长期有效
详细说明
详细介绍

产品名称:紫外可见分光光度计

产品型号:UV759S

 

UV759S紫外可见分光光度计主要特点:

采用先进的光、机、电、微计算机模快化设计,具有超群的性能和性价比。

采用比例双光束光路结构,并配置高性能“闪耀全息光栅”的低杂散光高分辨率的单色器, 具有出众的光学精度以及测量准确性、重现性和稳定性。

采用强大的微处理功能、全自动的系统操作,测试控制及数据处理,具有独特的自动调整“0”调整“100”八样品池联动以及光源反射镜微步切换技术。

具有全波段扫描、分波段扫描(759S型主机具备)、动力学时间扫描、以及GOTOλ、线性回归、浓度直读、峰谷检测等各种高级功能。

采用热敏绘图仪,可进行数据打印、光谱扫描(759S主机具备)、定波长时间扫描、线性回归等曲线的绘制。

具有USB接口,可直接与PC机交互,强化了仪器的检测数据、扫描图谱等处理功能,实现了测试文档的海量储存,也为用户二次开发提供了便利。

可靠的断电保护措施,可记忆测得数据、扫描图谱、回归方程以及仪器修正值等,并实现了开机快速初始化进入测试状态。

仪器操作简便,用户只需对应液晶显示屏上的菜单进行选项和确认,即能达到所需的功能。

仪器采用高能量的长寿命法兰盘定位氘灯。当仪器氘灯必须更换时,只需卸装两枚法兰盘定位螺丝,即可保证灯源处于**位置,无须繁琐的光路调整。

 

精科UV759S紫外可见分光光度计技术指标:

波长范围:190nm1100nm

波长最大允许误差:±0.5nm

波长重复性:≤0.2nm

光谱带宽:2nm

杂散光:≤0.05%T)(在220nm处,以NaI测定,

360nm,NaNO2测定)

透射比测量范围:0.0%T)~200.0% (T

吸光度测量范围:-0.300A)~3.000(A)

透射比最大允许误差:±0.3%T

漂移:≤0.001A/h(开机2h后,500nm处)

透射比重复性:≤0.15%T

基线平直度:±0.002A(200nm1050nm)

噪声:100%T)噪声≤0.15%T 0%T)噪声≤0.10%(T)

扫描速度: 快、中、慢

 

其它:

工作电压:AC220V±22V  50Hz±1Hz

额定功率:200W

环境温度:5℃~35

环境湿度:≤85%

产品型号

技术参数

UV759

紫外可见分光光度计 

  波长范围:190-1100nm,波长准确度:±0.5nm,光谱带宽:2nm,杂散光  ≤0.05%T, 比例双光束结构,全自动操作,LCD显示(数据),自动   调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样品架,不带  光谱扫描,有USB接口。配置软件后可与PC通讯,PC全面操作

UV759S

紫外可见分光光度计

  波长范围:190nm-1100nm;波长准确度:±0.5nm;光谱带宽:2nm;杂散光  ≤0.05%T,;比例双光束结构;全自动操作;LCD显示(数据、图谱);具有扫描   功能;自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能,;自动8联  样品架;可进行光谱扫描;有USB接口;配置软件后可与PC通讯

UV757CRT

紫外可见分光光度计

 波长范围:200-1000nm;波长准确度:±0.5nm;光谱带宽:2nm;全自动操作;LCD显示(数据);自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能;具有RS232接口;由PC全面操作(附软件);自动8联样品架,

UV757CRT/PC

紫外可见分光光度计

  CRT附电脑、打印机;技术指标同UV757

UV765

紫外可见分光光度计

  波长范围:190-1100nm;波长准确度±0.5nm;光谱带宽:2nm;杂散光   ≤0.05%T,;比例双光束结构;全自动操作;LCD显示(数据、图谱);具有扫   描功能;自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联   样品架;有USB接口,;配置软件后可可与PC通讯

UV765CRT

紫外可见分光光度计

  技术指标同UV765;带反控软件

UV765PC

紫外可见分光光度计

  技术指标同UV765;带电脑(含打印机)、反控软件、

760CRT双光束

紫外可见分光光度计

  双光束C-T式光路结构;波长范围:190-900nm;波长准确度±0.3nm;光谱带   宽:0.085nm连续可调;杂散光≤0.08%T;测光方式:具有波长扫描、时间   扫描、定量分析、多波长测定;附品牌电脑、喷墨打印附件



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