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- 详细介绍
产品名称：双光束紫外可见分光光度计
产品型号：760CRT
760CRT双光束紫外可见分光光度计主要特点：
采用全息闪耀光栅，双光束C-T式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好。
微机控制，自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数。
光源自动转换（可在294nm～364nm间任意设定）
功能极强的光谱处理能力。
软件特点：
信息存贮容量大，保存方便。
软件提供四个图谱通道临时贮存图谱，可进行覆盖和重叠方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描，透过率和吸光度的图谱可轻松地相互转换，对图谱可进行图谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。
图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。
时间扫描可进行动力学研究。
定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ和3λ的测定，3λ提供了自动的波长设定并提供10组波长数据供用户选择使用。
软件提供了定波长和多波长测试，并可对测试数据进行注释，对同一样品多用户的测试提供了方便，多波长测试则可进行多达20个点波长的测试。
可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。
打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、参数与数据打印和工作曲线的打印。
双光束760CRT紫外可见分光光度计技术指标：
测光方式：双光束C-T式光路结构，全息闪耀光栅分光器，光电倍增管检测。
波长范围：190nm～900nm
分辩率：优于0.15nm
光谱带宽：0.08nm～5nm间隔0.01nm连续可调
波长最大允许误差：±0.3nm（内装自动波长校正装置）
波长重复性：0.2nm
杂散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm处）
透射比最大允许误差：±0.3%τ（以NBS930D测定）
透射比重复性：0.2%（T）
扫描速度：快、中、慢
稳定性：≤±0.004A/30min
噪声：±0.3%（100%处） ±0.1%（0%处）
产品型号
技术参数
UV759
紫外可见分光光度计
波长范围：190-1100nm，波长准确度：±0.5nm，光谱带宽：2nm，杂散光≤0.05%T, 比例双光束结构,全自动操作,LCD显示（数据）,自动 调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样品架，不带光谱扫描，有USB接口。配置软件后可与PC通讯,由PC全面操作
UV759S
紫外可见分光光度计
波长范围：190nm-1100nm；波长准确度：±0.5nm；光谱带宽：2nm；杂散光≤0.05%T,；比例双光束结构；全自动操作；LCD显示(数据、图谱)；具有扫描功能；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能,；自动8联样品架；可进行光谱扫描；有USB接口；配置软件后可与PC通讯
UV757CRT
紫外可见分光光度计
波长范围：200-1000nm；波长准确度：±0.5nm；光谱带宽：2nm；全自动操作；LCD显示（数据）；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附软件）；自动8联样品架，
UV757CRT/PC
紫外可见分光光度计
CRT附电脑、打印机；技术指标同UV757
UV765
紫外可见分光光度计
波长范围：190-1100nm；波长准确度±0.5nm；光谱带宽：2nm；杂散光≤0.05%T,；比例双光束结构；全自动操作；LCD显示(数据、图谱)；具有扫描功能；自动调“0%T”“100%T”、浓度线性回归、记忆储存功能, 自动8联样品架；有USB接口,；配置软件后可可与PC通讯
UV765CRT
紫外可见分光光度计
技术指标同UV765；带反控软件
UV765PC
紫外可见分光光度计
技术指标同UV765；带电脑(含打印机)、反控软件、
760CRT双光束
紫外可见分光光度计
双光束C-T式光路结构；波长范围：190-900nm；波长准确度±0.3nm；光谱带 宽：0.08～5nm连续可调；杂散光≤0.08%T；测光方式：具有波长扫描、时间扫描、定量分析、多波长测定；附品牌电脑、喷墨打印附件
粤公网安备44196802000105号
400-6226-992