贵金属XRF光谱仪 XRF QualiX-P1

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XRF光谱仪– QualiX- P1非常适合贵金属分析，是电子/电器和装饰品加工的理想选择。

分析仪的两个主要应用是合金测定/化学分析，土壤分析和矿物分析

合金测定/化学分析

XRF分析仪在确定所检查的合金以及对样品的构成元素进行化学分析时可发挥最大的潜力。样品制备中应清除所有灰尘，铁锈，油脂等。如果样品已经清洁，则无需进行制备，不干净的样品将对分析产生重大影响。有许多因素可能会导致合金样品分析错误，例如样品大小或清洁度等因素会干扰读数。这些因素的解决方案可以很简单，例如对样品表面进行涂漆或涂层，或者如果样品尺寸太小，可以同时使用多个样品。

性能：

• 超高精度，最高性能

• 电冷却Si-Pin半导体探测器代替液氮冷却探测器

• 专门开发的专业软件，界面友好

• 自由选择滤镜和准直仪自动切换

• 多变量非线性回归程序；独立矩阵效应校正模型

• 三重安全保护模式；钢材结构; 优雅时尚

• 手动打开和关闭样品室，安全便捷

• 信噪增强器（SNE ），大大提高了测量的稳定性和准确性

• 内置高分辨率摄像头，方便用户随时分析样品

工作原理：

当某些元素受到X射线轰击时，会发射出电子，从而使能量从外壳中释放出来。电子可以从原子的内壳中弹出，从而使它们从更高的层次下降。当此事件发生时，称为“特征X射线”。

X射线荧光过程

a致辐射的x射线和特征性x射线是由电子束产生的，这是由XRF分析仪用X射线轰击样品的原子而发生的。每个电子跃迁都发射特征X射线（荧光光子），其能量等于特定元素在两个壳之间的能量差。电子在相同元素的所有原子中具有相同的固定能级，每个类似的电子跃迁均发射相同离散能量的X射线。因此，当电子从同一元素的原子中射出时，发出的X射线是相同的。

技术指标：

可测元素      钾（K）〜铀（U） 

同时元素      同时分析24个元素

测量对象      粉末，固体和液体

测试时间      60s-300s

能量分辨率   （155±5）电子伏特

分析精度      0.05％

管电压        5kV〜50kV

管电流        50µA〜1000µA

检出限        1 ppm

环境温度范围  15-30°摄氏度

相对湿度      35〜70％

重量          30公斤

工作电压      交流110v   / 220v

箱体尺寸      310（宽）*   300（深）* 100mm（高）

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