理化联科iPore400F比表面积与孔径分析仪

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    a)超低比表面样品测定的重复性、重现性和稳定性：仪器的长期稳定性是低比表面材料样品质量检测和质量控制的基础保证。结果表明，iPore400F 的即时重复性偏差优于0.1%，一天重复性偏差优于0.6%，四天长期稳定性优于1.0%。

    b)用氮吸附实现替代氪吸附：氪吸附一般用于比表面在0.0005~0.5m²/g的比表面积的测定，成本高昂，主要应用于医药行业。上述气体吸附分析技术上的突破为药企行业应用带来了的巨大福音，氮吸附已经成功地实现了氪吸附领域的超低比表面积测定，可以覆盖99%的比表面积测定需求。

    c)在标准“介孔仪器”配置上实现氪吸附：当试样比表面小于0.005m²/g时，才需要氪吸附。而新技术同样可以满足氪吸附的条件。即，一台全部采用新技术的iPore可以不需要配备10torr压力传感器以及分子泵，100%全部满足药企的各种样品的比表面积的测定需求，包括氮吸附和氪吸附。

    d)建立介孔薄膜孔径评价的新方法：气体吸附技术在精度控制上的突破也为介孔薄膜的孔径分析带来佳音，预期这种吸附量极低的孔径分析只需要按照常规操作即可实现测量。

    e)突破传统“介孔仪器”，实现微介孔样品的氮吸附微孔测定：新技术使1000torr传感器的分辨率提高到了10torr级别，不仅将比表面测定的重复性提高一个数量级，而且将微介孔分析的重复性也得到充分保障，对MOF/COF样品的研究开发将起到推动作用。

    f)较大介孔和边际大孔的孔径分析取得突破：过去对30nm以上的峰值孔径很少能做，因为压力传感器必须能够密集分辨和探知百万分之一的压力变化，这大大超出0.15%分辨率的标称值。32位电路系统新技术极大地提高压力传感器的分辨率，至少可分辨3.9x10^-8的相对压力变化，因此，实现了44nm窄孔孔径的重现性和80nm孔径的测量，为建立气凝胶和氧化铝电池隔膜孔径分析的新方法奠定了坚实的基础。